徠卡三離子束切割儀

您是否需要制備硬的，軟的，多孔，熱敏感，脆性和/或非均質(zhì)多相復(fù)合型材料，獲得高質(zhì)量樣品表面，以適宜于掃描電子顯微鏡(SEM)分析和原子力顯微鏡(AFM)檢測(cè)。Leica EM TIC 3X的寬場(chǎng)離子束研磨系統(tǒng)非常適合能譜分析EDS、波譜分析WDS、俄歇分析Auger、背散射電子衍射分析EBSD。離子束研磨技術(shù)是一個(gè)適用于任何材質(zhì)樣品，獲得高質(zhì)量切割截面或拋光平面的解決方案。使用該技術(shù)對(duì)樣品進(jìn)行處理，樣品受到形變或損傷的可能性低，可暴露出樣品內(nèi)部真實(shí)的結(jié)構(gòu)信息。

徠卡三離子束切割儀可以靈活選擇多種樣品臺(tái)，不僅適用于高通量實(shí)驗(yàn)，也適合于特定制樣需求實(shí)驗(yàn)室。依據(jù)您具體需求，每一臺(tái)Leica EM TIC 3X都可裝配多種可切換樣品臺(tái)，如標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)、三樣品臺(tái)、旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)或冷凍樣品臺(tái)，應(yīng)用于常規(guī)樣品制備，高通量樣品制備，以及某些高分子聚合物，橡膠或生物材料等溫度極敏感樣品制備。其與Leica EM VCT環(huán)境傳輸系統(tǒng)相連接，可以實(shí)現(xiàn)將冷凍的生物樣品表面受保護(hù)地被真空冷凍傳輸進(jìn)入鍍膜儀或冷凍掃描電鏡(Cryo-SEM)中，或者應(yīng)用于地質(zhì)或工業(yè)材料樣品，實(shí)現(xiàn)真空傳輸。

操控性能方面創(chuàng)新特點(diǎn)：

★★★可獲得高質(zhì)量切割截面，區(qū)域尺寸可達(dá)>4x1mm

★★★多樣品臺(tái)設(shè)計(jì)可一次運(yùn)行容納三個(gè)樣品

★★★可容納大樣品尺寸為50x50x10mm或直徑38mm

★★★可簡(jiǎn)易準(zhǔn)確地完成將樣品安裝到載臺(tái)上以及調(diào)節(jié)與擋板相對(duì)位置的校準(zhǔn)工作

★★★通過(guò)觸摸屏進(jìn)行簡(jiǎn)單操控，不需要特別的操作技巧

★★★樣品處理過(guò)程可實(shí)時(shí)監(jiān)控，可以通過(guò)體視鏡或HD-TV攝像頭觀察

★★★L(fēng)ED4分割照明，便于觀察樣品和位置校準(zhǔn)

★★★內(nèi)置式，解耦合設(shè)計(jì)的真空泵系統(tǒng)，提供一個(gè)無(wú)振動(dòng)的觀察視野

★★★可在制備好的平整的切割截面上可再進(jìn)行襯度增強(qiáng)作用，即離子束刻蝕處理

★★★幾乎適用于任何材質(zhì)樣品，使用冷凍樣品臺(tái)，擋板和樣品溫度可降至-160℃

★★★通過(guò)USB即可進(jìn)行參數(shù)和程序的上傳或下載

★★★一體化解決方案，大大節(jié)約用戶的干預(yù)時(shí)間

離子切割

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https://www.chem17.com/st412007/product_32858431.html